Микроскоп Eclipse FN1, прямой, ИК-ДИК, 10x/22,10х/25, Nikon

Большая глубина проникновения при электрофизиологических исследованиях.

Eclipse FN1 - прямой микроскоп особого назначения, специально разработанный в соответствии со строгими требованиями, предъявляемыми к оборудованию для электрофизиологических исследований.

Особенности

• Высокая четкость и контрастность благодаря оптической системе с иммерсионным объективом Plan 100xW (NA 1,1, WD 2,5 мм) с коррекцией аберраций, вызванных погружением в жидкость;
• новая оптика c более длинными рабочими расстояниями, более тонкими контурами, лучшими углами подвода и безаберрационным изображением в световом диапазоне от видимого до инфракрасного;
• открытая конструкция позволяет менять высоту микроскопа и убирать из рабочей зоны его детали (кондесор, препаратоводитель и др.) для максимально возможной индивидуальной настройки;
• оснащен множеством средств для подавления шумов (механизмом вкл./выкл. турели фильтров, механизмомами смены светового потока, смены увеличения и др.);
• расположение на передней части штатива рукоятки фокусировки, полевой диафрагмы для удобного управления;
• пульт дистанционного управления для удаленного включения/выключения осветителя и регулировки интенсивности излучения;
• конструкция микроскопа позволяет проводить быструю и безопасную смену объективов.

Технические характеристики Eclipse FN1:

• оптическая система - CFI60 и CFI75, настроенные на бесконечность;
• осветитель - ламповый блок с галогеновым осветителем, 100 Вт; оптоволоконный галогеновый осветитель 100 Вт;
• тип тубуса - тринокулярный / бинокулярный;
• увеличение окуляров - 10x/22,10х/25;
• револьвер объективов - направляющая «салазки» для объективов CFI60; переднее/заднее положение,
  двухпозиционная; одинарная оправа объектива для объектива CFI75; 1-позиционная;
• столик - прямоугольный механический столик на 3 образца; диапазон перемещений: 30 мм (X, Y);
• LWD-конденсор - универсальный, на каретке; числовая апертура - 0,78, рабочее расстояние - 7,2 мм;
  с возможностью наблюдения по методу ДИК и косого освещения.